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原子力顯微鏡（AFM）是一種高精度的表面成像設(shè)備，它通過探針與樣品表面相互作用的力來進(jìn)行掃描，實現(xiàn)原子級別的分辨率。然而，由于AFM對環(huán)境振動極為敏感，因此必須配合使用高性能的防震平臺，以確保測量的準(zhǔn)確性和重復(fù)性。原子力顯微鏡用防震平臺的設(shè)計特點(diǎn)：1.高效隔震：采用多級隔震系統(tǒng)，有效隔絕來自地面和周圍環(huán)境的振動干擾。2......
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針式掃描原子力顯微鏡（SPM）以其原子級別的高分辨率和對樣品非破壞性的檢測能力，成為科研及工業(yè)領(lǐng)域的先進(jìn)分析工具?；诹孔恿W(xué)原理，通過一個尖銳的探針來感知樣品表面的原子力場。當(dāng)探針尖與樣品表面接近時，原子間的排斥力或吸引力會導(dǎo)致探針發(fā)生微小的位移。這種位移通過精密的光電系統(tǒng)被檢測并轉(zhuǎn)換為電信號，隨后經(jīng)過處理得到樣品表......
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多功能原子力顯微鏡是一種高分辨率的顯微成像技術(shù)，不僅可以在納米尺度上對樣品表面進(jìn)行形貌表征，還能研究物質(zhì)的其他物理性質(zhì)，如力學(xué)特性、磁性、電學(xué)性質(zhì)等。核心部分是一根具有微小尖的懸臂梁（cantilever），其末端裝有探針。當(dāng)探針靠近樣品表面時，原子之間的相互作用力（包括范德華力、靜電力、磁力等）將引起懸臂梁的偏折。通......
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多功能原子力顯微鏡是一種具有高分辨率的表面分析儀器，能夠提供物質(zhì)表面微觀結(jié)構(gòu)的三維圖像。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡或電子顯微鏡不同，AFM不依賴任何形式的光學(xué)或電子成像，而是通過探針與樣品之間的物理作用力來獲取表面信息。AFM使用一個微小的探針（通常由硅或氮化硅制成，尖非常尖銳），在樣品表面進(jìn)行掃描。探針固定在柔性的懸臂上，當(dāng)......
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